Omn pres franc etude aux interfaces des couches minces cu au si et pd au si

Rubriek: Textual/Printed/Reference Materials - Boek

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Des echantillons de Cu/Au, Au/Cu et Pd/Au sur Si(100), Si(111) ont ete elabores par evaporation thermique ensuite recuit sous vide entre 100-650 C/30min. La caracterisation de ces echantillons a ete effectuee par la retrodiffusion de Rutherford RBS, la diffraction des rayons X, la microscopie eletronique a balayage avec l'energie dispersive a rayons X qui lui est associee. L'approche de cette etude est de voir si la couche d'or interposee en sandwich joue le role d'une barriere de diffusion quand la temperature de la structure augmente. Apres recuit thermique, pour le systeme Cu/Au et Au/Cu, la coalescence des couches de Cuivre et d'Or conduit vers la formation des siliciures de Cuivre Cu3Si et/ou Cu4Si sous forme de cristallites de formes rectangulaires et carrees sur Si(100) et triangulaire equilateraux sur Si(111).De meme pour la structure Pd/Au, la coalescence du Palladium et l'Or conduit a la croissance de siliciures Pd2Si et/ou PdSi sous forme de micro-cristallites de forme triangulaire equilateral sur Si(111), tandis que sur Si(100) on enregistre la formation de nanocrystallites sans aucune forme particuliere.La croissance de ces composes pour les deux structures."

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Taal: fr

Bindwijze: Paperback

Oorspronkelijke releasedatum: 28 februari 2018

Aantal pagina's: 128

Illustraties: Nee

Hoofdauteur: Benazzouz-C

Hoofduitgeverij: Omniscriptum

Extra groot lettertype: Nee

Product breedte: 152 mm

Product hoogte: 8 mm

Product lengte: 229 mm

Verpakking breedte: 152 mm

Verpakking hoogte: 8 mm

Verpakking lengte: 229 mm

Verpakkingsgewicht: 200 g

EAN: 9783838147727

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